Главная-Продукция-Портативный рентгенофлуоресцентный рентгеновский анализ – Olongray Instruments Group

Продукция

< >

Портативный рентгенофлуоресцентный рентгеновский анализ

бренд Aolong

происхождение продукта Китай

время доставки 15 дней

производственно – сбытового потенциала 300 шт. / Год

Используя портативную технологию рентгенофлуоресцентного анализа Xrf, рентгеновская флуоресценция способна одновременно измерять различные элементы в веществе. Портативный xrf может быть сконфигурирован для измерения любых множественных элементов от Na до U в соответствии с требованиями приложения пользователя. Анализ xrf может широко использоваться в охране окружающей среды, археологии, строительных материалах, директиве RoHS и других отраслях. Портативный XRF – идеальный выбор для контроля качества для предприятия.

Основной принцип XRF анализа

Орбитальная потенциальная энергия электронов различных элементов отличается друг от друга. Следовательно, энергия рентгеновских фотонов, испускаемых после возбуждения, отличается друг от друга, т.е. каждый элемент излучает x 一 лучей с удельной энергией атома этого элемента, который представляет характеристики элемента и поэтому называется характеристическим рентгеновским лучом элемента. Характерное рентгеновское излучение каждого элемента имеет свою определенную энергию, и рентгеновское излучение, обнаруженное с определенной энергией, может определить наличие этого элемента в образце материала.

Принцип работы портативной рентгенофлуоресцентной лампы

Исходное рентгеновское излучение, производимое рентгеновской трубкой и высоким напряжением, облучается на образец после соответствующей фильтрации с помощью оптического фильтра. Стимулируется характерное рентгеновское излучение (называемое рентгеновской флуоресценцией) элементов, содержащихся в образце. Спектры рентгеновской флуоресценции получали с использованием детекторов рентгеновского излучения с высоким энергетическим разрешением. Различные элементы формируют разные спектральные пики на спектрах. Сила спектрального пика прямо пропорциональна содержанию элементов в образце. Энергетический спектр, зарегистрированный детектором, анализируется компьютером. Типы элементов, содержащихся в образце, качественно анализируются по положению и форме спектрального пика.

Портативный XRF оснащен детектором Si (PIN) или SDD.

Разрешение детектора – один из основных показателей для оценки работы портативного XRF.

Разрешение <145 эВ (чем ниже разрешение, тем выше чувствительность).

Скорость счета > 1000 / с

Хрустальная область > 15 мм2

Толщина бериллиевого окна = 0,025 мм

Мощность детектора <1,2 Вт

Продукт Paramenters

Технические параметры

Модель		AL-NP-5010A
Принцип анализа		Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный анализ
Диапазон измерения элемента		Любой элемент из Na (11) ~ U (92)
Мин. Предел измерения		Cd / Hg / Br / Cr / Pb≤2 частей на миллион
Форма образца		Произвольный размер, любая нестандартная форма
Тип образца		Пластик / металл / пленка / мощность / жидкость и т. Д.
Рентгеновская трубка	Целевой материал	Пн
	Напряжение на трубке	5 ~ 50 кВ
	Ток трубки	1 ~ 1000 мкА
Диаметр экспонирования образца		2,5,8 мм
Детектор		Si-Pin или SDD-детектор, высокоскоростная система анализа амплитуды импульсов
Генератор высокого напряжения		Специальный высоковольтный генератор для X-флуоресценции
АЦП		2048 каналов
Фильтр		6 фильтров выбираются и конвертируются автоматически
Наблюдение за образцом		Цветная ПЗС-камера 200 ×
Программное обеспечение для анализа		Запатентованные программные продукты, бесплатное обновление на всю жизнь
Метод анализа		Теоретический метод коэффициента α, метод основных параметров, метод эмпирических коэффициентов
Время анализа		30 ~ 900 секунд, регулируется
ПО операционной системы		WINDOWS XP
Обработка данных система	Хозяин	Бизнес-модель ПК
	Процессор	≥2,8 г
	объем памяти	≥2 г
	CD-ROM	8 × DVD
	Жесткий диск	≥500 г
	Отображать	ЖК-дисплей с диагональю 22 или 24 дюйма
Рабочая обстановка		Температура 10 ~ 35 ℃, влажность 30 ~ 70% относительной влажности